Productum

Fabricator Sinensis FSA500 Profilatoris Fasciculorum Multi-Spot

Instrumentum ad mensuras analysandas et metiendas parametra optica radiorum et macularum focalizatarum. Constat ex unitate designationis opticae, unitate attenuationis opticae, unitate tractationis caloris et unitate imaginationis opticae. Praeterea, programmatibus analyticis instructum est et relationes probationum praebet.


  • Exemplar:FSA500
  • Longitudo undae:300-1100nm
  • Potestas:Maximus 500W
  • Nomen Marcae:CARMAN HAAS
  • Detalia Producti

    Etiquettae Productarum

    Descriptio Instrumenti:

    Instrumentum ad mensuras analysandas et metiendas parametra optica radiorum et macularum focalizatarum. Constat ex unitate designationis opticae, unitate attenuationis opticae, unitate tractationis caloris et unitate imaginationis opticae. Praeterea, programmatibus analyticis instructum est et relationes probationum praebet.

    Proprietates Instrumenti:

    (1) Analysis dynamica variorum indicatorum (distributionis energiae, potentiae maximae, ellipticitatis, M2, magnitudinis maculae) intra ambitum profunditatis focalis;

    (2) Lata responsio longitudinis undae ab UV ad IR (190nm-1550nm);

    (3) Multi-spot, quantitativus, facilis ad operandum;

    (4) Limen damni altum ad potentiam mediam 500W;

    (5) Resolutio altissima usque ad 2.2µm.

    Applicatio Instrumenti:

    Ad mensurationem parametrorum unius radiorum vel multiradiorum et focalizationis radiorum.

    Specificatio Instrumenti:

    Modellum

    FSA500

    Longitudo undae (nm)

    300-1100

    NA

    ≤0.13

    Diameter maculae positionis pupillae ingressus (mm)

    ≤17

    Potentia Media(V)

    1-500

    Magnitudo photosensitiva (mm)

    5.7 × 4.3

    Diameter maculae mensurabilis (mm)

    0.02-4.3

    Frequentia imaginum (fps)

    14

    Coniunctor

    USB 3.0

    Applicatio Instrumenti:

    Spatium longitudinis undae fasciculi examinabilis est 300-1100nm, spatium potentiae mediae fasciculi est 1-500W, et diameter maculae focalizatae mensurandae ab minimo 20μm ad 4.3 mm variat.

    Dum utitur, usor modulum vel fontem lucis movet ut optimam positionem probationis inveniat, deinde programmate systematis incluso ad mensurationem et analysin datorum utitur.Programma diagramma aptationis distributionis intensitatis bidimensionalem vel tridimensionalem sectionis transversalis maculae lucis demonstrare potest, et etiam data quantitativa, ut magnitudinem, ellipticitatem, positionem relativam, et intensitatem maculae lucis in directione bidimensionali, demonstrare potest. Simul, radius M2 manu metiri potest.

    y

    Magnitudo Structurae

    j

  • Praecedens:
  • Deinde:

  • producta conexa